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產(chǎn)品展示/ Product display
THB-225PF濕熱高低溫試驗(yàn)箱用于能源,建筑建材家具,電子電氣通訊半導(dǎo),鐵路船舶交通,造紙印刷包裝,紡織印染服裝皮革,鋼鐵金屬,煙草檢測(cè),航空航天,制藥化妝品,汽車(chē)及零部件,電池電源,綜合,涂料等領(lǐng)域。
2025-03-19
THB-225PF
2044
快速高低溫試驗(yàn)箱 采用高強(qiáng)度雙層結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),外層為優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板,經(jīng)特殊工藝處理后具備良好的抗沖擊性與耐磨性,有效抵御日常使用中的碰撞與摩擦;內(nèi)層選用耐高溫、耐腐蝕的 SUS304 不銹鋼材質(zhì),確保箱內(nèi)環(huán)境潔凈無(wú)污染。箱體中間填充高效隔熱材料,限度減少熱量傳遞,降低能耗。
2025-04-27
TEB-800PF
341
高低溫試驗(yàn)箱 航空航天可靠性檢測(cè)專(zhuān)用 專(zhuān)用高低溫試驗(yàn)箱專(zhuān)為航空航天領(lǐng)域設(shè)計(jì),用于模擬飛機(jī)、衛(wèi)星、火箭等飛行器在全生命周期中可能遭遇的高低溫環(huán)境,對(duì)航空航天零部件、電子設(shè)備、復(fù)合材料、密封件等進(jìn)行可靠性檢測(cè)。通過(guò)模擬高空低溫、熱流環(huán)境及快速溫變過(guò)程,驗(yàn)證產(chǎn)品在嚴(yán)苛條件下的性能穩(wěn)定性、結(jié)構(gòu)完整性與環(huán)境適應(yīng)性,提前暴露潛在缺陷,確保航空航天產(chǎn)品在復(fù)雜大氣環(huán)境與空間環(huán)境中安全可靠運(yùn)行。
2025-04-23
THC-225PF
449
大型高低溫測(cè)試箱 主要用于模擬產(chǎn)品在不同高低溫環(huán)境下的工作條件,以檢驗(yàn)產(chǎn)品的性能、可靠性和適應(yīng)性。通常具有較大的內(nèi)部空間,可容納體積較大的測(cè)試樣品。采用制冷和加熱技術(shù),能夠快速準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)溫度的升降和控制。配備智能控制系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)程序設(shè)定、數(shù)據(jù)記錄和遠(yuǎn)程監(jiān)控等功能。
2025-04-22
THC-225PF
428
高低溫箱 溫濕度精準(zhǔn)調(diào)控測(cè)試耐候性 在多個(gè)領(lǐng)域用于測(cè)試產(chǎn)品的耐候性。在電子行業(yè),可模擬溫濕度環(huán)境,檢測(cè)電子產(chǎn)品在不同氣候條件下的運(yùn)行穩(wěn)定性,避免因溫濕度變化導(dǎo)致元件故障;汽車(chē)制造領(lǐng)域,用于測(cè)試汽車(chē)零部件,如傳感器、控制器等。
2025-04-23
THC-800PF
597
高低溫交變?cè)囼?yàn)箱 是一種用于模擬產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下使用情況的試驗(yàn)設(shè)備。它能夠在一定范圍內(nèi)快速、準(zhǔn)確地調(diào)節(jié)溫度,通過(guò)模擬高溫、低溫以及高低溫交替變化的環(huán)境,提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在溫度變化過(guò)程中可能出現(xiàn)的問(wèn)題,如材料變形、電氣性能變化、零部件損壞等。
2025-04-22
THC-408PF
689
大型高低溫試驗(yàn)箱 電子元器件可靠性利器 在電子元器件的研發(fā)、生產(chǎn)與質(zhì)量檢測(cè)過(guò)程中,確保其在不同環(huán)境條件下的可靠性至關(guān)重要。大型高低溫試驗(yàn)箱作為專(zhuān)業(yè)的環(huán)境模擬設(shè)備,能夠精準(zhǔn)模擬從極寒到高溫的各類(lèi)復(fù)雜溫度環(huán)境,同時(shí)還可控制濕度變化,為電子元器件提供全面、嚴(yán)苛的測(cè)試條件。
2025-04-22
THC-400PF
535
大型高低溫試驗(yàn)箱 電子電路板可靠性驗(yàn)證 在電子電路板的研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程中,其可靠性直接影響到電子設(shè)備的整體性能與使用壽命。大型高低溫試驗(yàn)箱專(zhuān)為電子電路板可靠性驗(yàn)證而生,通過(guò)精準(zhǔn)模擬 -70℃~+150℃的溫度環(huán)境,以及不同濕度條件下的溫濕度循環(huán)變化,能夠有效檢測(cè)電子電路板上焊點(diǎn)的熱疲勞、元器件的溫度敏感性、線(xiàn)路板基材的變形與開(kāi)裂等潛在問(wèn)題。
2025-04-22
THC-225PF
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