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產(chǎn)品展示/ Product display

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  • TSD-80F-2F二箱式冷熱沖擊試驗箱

    二箱式冷熱沖擊試驗箱 兩廂冷熱沖擊試驗箱采用7寸真彩LCD觸摸屏,比其它屏更大,更直觀,操作更簡單,運行更穩(wěn)定并且更節(jié)能,具有USB接口直接拷貝及記錄功能,包括歷史曲線,歷史數(shù)據(jù)等,直接拷貝到計算機查看分析及存盤。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

    TSD-80F-2F

    瀏覽量

    329

  • TSD-36F-2P兩槽式冷熱沖擊試驗箱 支持定制 可程式

    兩槽式冷熱沖擊試驗箱 支持定制 可程式 電子芯片lC、半導體材料陶磁及纖維材料之物理學性轉(zhuǎn)變,檢測其原材料對高低溫試驗的不斷低抗拉力及商品于熱漲冷縮商品的化學反應或物理傷害,可確定商品的質(zhì)量,從高精密lC到重機械的部件。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

    TSD-36F-2P

    瀏覽量

    464

  • TSD-80F-2P冷熱沖擊兩槽式試驗箱 模擬環(huán)境

    冷熱沖擊兩槽式試驗箱 模擬環(huán)境 用來測試材料結(jié)構或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適用的對象包括金屬,塑料,橡膠,電子…….材料,可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

    TSD-80F-2P

    瀏覽量

    500

  • 可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P

    可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P 用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無-不需要它的理想測試工具。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

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    376

  • TSD- 80F-2P可程式 快速冷熱沖擊試驗箱

    可程式 快速冷熱沖擊試驗箱 兩箱設備區(qū)分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分,測試產(chǎn)品置于測試區(qū),沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,測試產(chǎn)品為靜態(tài)。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

    TSD- 80F-2P

    瀏覽量

    558

  • TSD-80F-3P三箱式冷熱沖擊循環(huán)試驗箱 顯示運行數(shù)據(jù)

    三箱式冷熱沖擊循環(huán)試驗箱 顯示運行數(shù)據(jù) 用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)電子芯片IC、導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無-不需要它的理想測試工具。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

    TSD-80F-3P

    瀏覽量

    593

  • 可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 36F-2P

    可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 36F-2P 用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無-不需要它的理想測試工具。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

    瀏覽量

    585

  • TSD-36F-2P兩廂式高低溫沖擊試驗箱

    兩廂式高低溫沖擊試驗箱 試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設備, 用于測試材料結(jié)構或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在Z短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

    更新時間

    2025-03-19

    設備型號

    TSD-36F-2P

    瀏覽量

    650

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